MS-411×化合物半導体ウェハ検査
Case-3
ウェハに触れない
新しい検査の形。
高価で脆いウェハを、ピンセット一本で操り、裏面を覗き込む。
これまで現場が抱えてきた「ミスが許されない重圧」は、
もはや避けられない宿命ではありません。
MS-411がもたらしたのは、単なるデジタル化ではなく、
物理的な破損リスクを根源から断つ「置くだけ」という新機軸。
作業者の心理的負荷を削ぎ落とし、品質と効率を劇的に進化させた、次世代の検査スタイルを紐解きます。
「手首を返す一瞬」に
破損危機が潜む
化合物半導体の最前線で、長年「当たり前」とされてきた光景がありました。
それは、作業者がピンセット一本で高価なウェハを支え、裏面の印字を見るために手首を捻る危うい動作です。
薄く脆いウェハを扱う現場にとって、この一瞬の「手返し」は、常に落下破損という歩留まり低下の不安と隣り合わせの、神経を削る重労働でした。
「置くだけ」が変える
安全性とタクトタイム
MS-411の導入は、この緊張感に終止符を打ちました。
LED照明が裏面を照らし、モニターへ映し出すことで、
ウェハを検査台に置いたままの「非接触観察」を実現。
物理的なリスクをゼロにすると同時に、検査動作が無くなったことでタクトタイムの劇的な短縮を叶えました。
技術が人の負担を肩代わりし、確かな品質を支える。
それが新時代の検査スタイルです。
光と狭小の制約を
その小さなヘッドで。
ウェハステージに隙間をつくり裏面から印字を捉えるという構造に、従来のカメラでは、十分な光量と近接撮影の両立が困難でした。
LED照明を内蔵し、極限まで小型化されたMS-411は、暗所に沈んでいた印字を鮮明に浮き上がらせます。
熟練の勘に頼ることなく、誰もが安全かつ迅速に品質を担保できるこの環境が、製造ラインの安定稼働を静かに支え続けます。
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